更新時間:2021-04-17
美國GE露點儀校準MTS6與GE M系列水份探頭相兼容。出眾的靈敏性、響應速度、校準穩(wěn)定性,以及寬動態(tài)范圍使得M系列探頭樹立了工業(yè)水份測量的標準性能與數(shù)值。它們適用于實驗室與工業(yè)中寬范圍工藝條件下氣體和非水液體微量水份的測量。
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美國GE露點儀校準
MTS6與GE M系列水份探頭相兼容。出眾的靈敏性、響應速度、校準穩(wěn)定性,以及寬動態(tài)范圍使得M系列探頭樹立了工業(yè)水份測量的標準性能與數(shù)值。它們適用于實驗室與工業(yè)中寬范圍工藝條件下氣體和非水液體微量水份的測量。美國GE露點儀校準
MTS6與GE M系列水份探頭相兼容。出眾的靈敏性、響應速度、校準穩(wěn)定性,以及寬動態(tài)范圍使得M系列探頭樹立了工業(yè)水份測量的標準性能與數(shù)值。它們適用于實驗室與工業(yè)中寬范圍工藝條件下氣體和非水液體微量水份的測量。
本安:外加齊納柵可達到本安。
功能:顯示露點溫度或PPMv(可選)
輸出:0-20mA,4-20mA或0-2V隔離輸出,輸出范圍可設置
報警繼電器:故障報警,兩個可設置C型繼電器(SPDT),最大可通過3A電流(在250VAC/30VDC電壓下)
輸出單位:
露點/霜點溫度:℃
所需電源:
交流供電:100~240VAC,50/60Hz
直流供電:24VDC
顯示:128X64 LCD
溫度:
操作:-20到60 ℃
儲存:-40 到70 ℃
水份測量:
探頭類型:GE Panametrics的M系列薄膜氧化鋁水份探頭
溯源性:每個探頭單獨用計算機標定,對比于已知的水份含量,標定可溯源至美國國家技術標準局(NIST)
操作溫度:-110 到70 ℃
操作壓力:5μHg到5000psig
露點/霜點溫度:全校準范圍:60到-110℃
校準范圍:
• 標準:20 到 -80 ℃,數(shù)據(jù)可延伸到-110℃
• 延伸高溫:60 到-80℃,
精度:
• ±2 ℃(范圍為-65℃至+60 ℃)
• ±3 ℃(范圍為-110 oC至-66 ℃)
重現(xiàn)性:
• ±0.5 ℃(范圍為-65至+60 ℃)
• ±1.0 ℃(范圍為-110至-66℃)
響應時間:對于水份含量每增加或減少63%響應時間短于5秒
MTS6與GE M系列水份探頭相兼容。出眾的靈敏性、響應速度、校準穩(wěn)定性,以及寬動態(tài)范圍使得M系列探頭樹立了工業(yè)水份測量的標準性能與數(shù)值。它們適用于實驗室與工業(yè)中寬范圍工藝條件下氣體和非水液體微量水份的測量。美國GE露點儀
本安:外加齊納柵可達到本安。
功能:顯示露點溫度或PPMv(可選)
輸出:0-20mA,4-20mA或0-2V隔離輸出,輸出范圍可設置
報警繼電器:故障報警,兩個可設置C型繼電器(SPDT),最大可通過3A電流(在250VAC/30VDC電壓下)
輸出單位:
露點/霜點溫度:℃
所需電源:
交流供電:100~240VAC,50/60Hz
直流供電:24VDC
顯示:128X64 LCD
溫度:
操作:-20到60 ℃
儲存:-40 到70 ℃
水份測量:
探頭類型:GE Panametrics的M系列薄膜氧化鋁水份探頭
溯源性:每個探頭單獨用計算機標定,對比于已知的水份含量,標定可溯源至美國國家技術標準局(NIST)
操作溫度:-110 到70 ℃
操作壓力:5μHg到5000psig
露點/霜點溫度:全校準范圍:60到-110℃
校準范圍:
• 標準:20 到 -80 ℃,數(shù)據(jù)可延伸到-110℃
• 延伸高溫:60 到-80℃,
精度:
• ±2 ℃(范圍為-65℃至+60 ℃)
• ±3 ℃(范圍為-110 oC至-66 ℃)
重現(xiàn)性:
• ±0.5 ℃(范圍為-65至+60 ℃)
• ±1.0 ℃(范圍為-110至-66℃)
響應時間:對于水份含量每增加或減少63%響應時間短于5秒